Twenty-year survival analysis of Utah array implants: lessons for chronic BCI design
犹他阵列植入二十年生存率分析：对慢性脑机接口设计的启示
内容概述
研究回顾了二十年间数十例犹他阵列植入病例的功能存续情况，为下一代长期植入产品设计提供了历史对照基准。
推荐理由
这是目前公开文献中时间跨度最长的植入式电极随访研究，是评估任何新电极长期表现的重要参照系。
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