脑机百科消息(bciwiki.com)，据《Frontiers in Neuroscience》的期刊记录，Baozhou Xing、Li Zhang和Wen-Jun Tu撰写的植入式脑机接口临床安全评估综述于2026年10月28日发表。作者来自山东第二医科大学及北京大学航天临床医学院航天中心医院。文章梳理现有证据，并提出全生命周期评估框架，而非认定某一种植入式脑机接口已具备普遍安全性。
综述涵盖穿透式皮层内、皮层表面（包括软脑膜下）及脑静脉系统，并将刺激作为额外的暴露因素考量。已有研究报告的安全相关事项包括围手术期神经系统和伤口并发症、血管通畅情况、刺激相关影响、器械与材料变化，以及参与者可能依赖的功能丧失。作者指出，研究队列较小且有时重叠，暴露统计分母不一致，长期监测不完整，取出器械数据有限，使不同架构之间的比较受到限制。
作者提出，长期安全性不能由单项检查推断。临床复查、针对具体问题的影像检查、器械状态读取与检查，以及参与者层面的结局，各自反映安全记录的不同部分，需要随时间综合判断。拟议框架覆盖植入前基线、植入、恢复、长期使用、新发现及停用阶段，将小规模共同数据集与架构专属评估模块结合，并设置由事件触发的确认、归因、升级处理和结局记录流程。
作者强调，这一框架在为正式指导文件提供依据之前，仍需开展前瞻性多中心测试、独立判定，纳入参与者及照护者意见，并进行登记随访和定期修订。其近期目标是让安全证据更可比较、更便于临床使用，而不是将任何植入式脑机接口架构视为普遍安全。